波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）憑借分析速度快、精度高、操作簡便等優勢，已成為工業過程控制與科研檢測中元素分析的重要工具。日本理學（RIGAKU）的ZSX Primus系列是該領域的代表性產品，其中ZSX Primus III NEXT與ZSX Primus IV在結構設計上各有側重，共同覆蓋從常規質控到研究的多種需求。

ZSX Primus IV為順序掃描型X射線熒光光譜儀，適用于固體、液體、粉末、合金以及薄膜上的元素分析，可快速定量測出從鈹（Be）到鈾（U）的元素。ZSX Primus III NEXT則為波長色散型X射線熒光光譜儀，可快速定量測定從Be到鋦（Cm）的元素，采用理學獨特的光路結構，更適用于工業質量控制。

兩款儀器均體現了理學在硬件上的多項積累。其一是30微米超薄窗光管，與Canon Electron Tubes & Devices共同開發，較以往75微米窗光管信號強度提升約40%，有效增強輕元素檢測能力。其二是X光管上照射方式，樣品位于光管下方，從根本上避免粉塵對光管鈹窗膜的污染，更適合冶金、水泥、礦石等易產生粉塵的場景。其三是高靈敏度分光晶體，如用于硼元素的新型人工多層膜晶體RX85，靈敏度較以往提高約30%；新型彎晶PET、Ge對鋁、硅、磷、硫的分析靈敏度也提升約30%。

ZSX Primus III NEXT

在易用性方面，ZSX Primus III NEXT標配R-θ可移動樣品臺，可對任意位置的小樣品進行精準定位與面分布（MAPPING）分析；支持12、24、36、48和96位自動進樣器，適配大批量樣品的連續測試。軟件層面，儀器可自動建立工作曲線，配合全新SQX無標樣分析軟件，約1分鐘即可完成全元素掃描分析；可選散射線基本參數法（FP法），進一步提升復雜基體的分析準確度；還可選自動化操作軟件、接入智能化實驗室，實現無人值守分析。

在應用層面，該系列可廣泛用于鋼鐵、水泥、礦石、環保等行業的元素定量分析，為從原料到成品的質量把控提供數據支撐。綜合來看，ZSX Primus系列以穩定的硬件平臺與成熟的軟件體系，為元素定量分析提供了較完整的解決方案。

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[本文素材轉載自佛山翁開爾]